在做电平转换芯片的电路设计和失效分析时,查找并记录的一些权威文档、设计要点及调试过程。
![电平转换芯片系列文章](https://www.sunev.cn/blog/wp-content/themes/justnews/themer/assets/images/lazy.png)
资料篇
设计要点篇
调试过程篇
PS:测试方法有误,不具有参考意义。
失效分析篇
扫码关注尚为网微信公众号
![尚为网微信公众号](https://www.sunev.cn/static/ad/qrcode.jpg)
每天学习电路设计和嵌入式系统的专业知识,关注一波,没准就用上了。
原创文章,作者:sunev,如若转载,请注明出处:https://www.sunev.cn/hardware/1376.html
在做电平转换芯片的电路设计和失效分析时,查找并记录的一些权威文档、设计要点及调试过程。
PS:测试方法有误,不具有参考意义。
原创文章,作者:sunev,如若转载,请注明出处:https://www.sunev.cn/hardware/1376.html