由于测试过程中接地出现异常，下面的测试不具有参考价值，仅留做备份。
一、电平转换芯片测试
为防止在测试过程中核心板被损坏，以及核心板对测试结果的影响，以下测试均不接核心板。
| 配置 | 测试内容 | 测试结果 | |
| 测试项 1 | VCCA = 3.3V VCCB = X DIR = X A = X B = X | A 点电压及驱动能力 B 点电压及驱动能力 | A 点电压：3.3V，驱动能力：3.3K/82K 均能拉低 B 点电压：0V，驱动能力：无 注意：只有部分 IO buffer 的 A 点电压处于 3.3V，且如果将具有 3.3V 的 A 点经 3.3K/82K 电阻拉低后，再次重新上电 VCCA，A 点电压有些为低、有些为 3.3V。此部分不符合预期，解答见 Q1。 |
| 测试项 2 | VCCA = X VCCB = 5.0V DIR = X A = X B = X | A 点电压及驱动能力 B 点电压及驱动能力 | A 点电压：0.5V，驱动能力：仅 3.3K 能拉低，且断开电阻后，电压恢复至 0.5V B 点电压：5.0V，驱动能力：3.3K/82K 均能拉低 注意：所有 IO buffer 的 B 点电压处于 5.0V，且即使将 B 点经 3.3K/82K 电阻拉低后，再次重新上电 VCCB，B 点电压仍为 5.0V。 |
| 测试项 3 | VCCA = 3.3V VCCB = 5.0V DIR = X A = X B = X | VCCA 先于 VCCB 上电 A 点电压及驱动能力 B 点电压及驱动能力 | A 点和 B 点同为高电平或低电平（高电平时幅值不同，低电平时幅值相同，低电平时也不符合预期，解答见 Q1），对应的电压及驱动能力： A 点电压：3.3V，驱动能力：3.3K/82K 均不能拉低 B 点电压：5.0V，驱动能力：3.3K 可以直接拉低，82K 只能拉低 0.2V 的压降 另外，B 点控制 A 点，即 B 点用 3.3K 电阻拉低后，A 点即低电平（0V）；B 点用 3.3K 电阻拉高后，A 点即高电平（3.3V） |
| 测试项 4 | VCCA = 3.3V VCCB = 5.0V DIR = X A = X B = X | 在测试项 3 的基础上，保持 VCCA 上电，将 VCCB 断电再重新上电： A 点电压及驱动能力 B 点电压及驱动能力 | 无论 A 点和 B 点电压处于何值，VCCB 重新上电后，A 点和 B 点均可能为高电平或低电平（低电平时也不符合预期，解答见 Q1）。若是高电平，电压及驱动能力同测试项 3 结果。 |
| 测试项 5 | VCCA = 3.3V VCCB = 5.0V DIR = X A = X B = X | 在测试项 3 的基础上，保持 VCCB 上电，将 VCCA 断电再重新上电： A 点电压及驱动能力 B 点电压及驱动能力 | 无论 A 点和 B 点电压处于何值，VCCA 重新上电后，A 点和 B 点均可能为高电平（若出现低电平，低电平时也不符合预期，解答见 Q1）。若是高电平，电压及驱动能力同测试项 3 结果。 |
二、接上核心板
A 端的输出几个别的为高，大多数为低，何解？
除非 FPGA 的 IO 下拉？
些许疑问：
Q1：结合测试项 1 和测试项 2，单独对 VCCA 或者 VCCB 上电后，A 点电压并非完全为高，而 B 点电压则完全为高，前者与预期不符。根据该 buffer 的特性，内部具有 bus-hold 电路，通过漏电流形成一个浮动电压，应该所有的输入端口均为高。是芯片的个体差异造成的测试结果差异？或者是不当使用造成的个体差异？亦或是正常现象？
A1：测试了另外一个板子的 7 个 buffer，A 点电压也完全为高，应该是 buffer 的个体差异（包括使用不当造成的）。
Q2：测试项 3 和测试项 4 中，无论 A 点电压处于高电平（浮动电压）或低电平，VCCB 上电后，A 点和 B 点均有可能处于相反的电平。
A2：同 A1，未发现低电平的情况。
问题总结：
1）测试项 3 和测试项 4 中，VCCA 先上电，此时 A 点有浮动电压，但不具备驱动能力；随后，VCCB 上电，B 点也有浮动电压，由于默认是输入状态（B—>A）；那么，A 点输出带驱动能力的电压。如果 A 点接的是控制器 IO，由于控制器 IO 的 VCCIO 同 VCCA 先行建立（实际上前者稍慢，电容大），所以，这种情况并不会损坏控制器 IO。
2）测试项 5 中，由于 VCCB 先上电，B 点产生浮动电压，由于默认是输入状态（B—>A）；那么，当 VCCA 供电时，A 点即输出带驱动能力的电压。如果 A 点接的是控制器 IO，那么，A 点电流经钳位二极管灌入 VCCIO 对旁路电容充电，灌入的电流如果大于钳位二极管的限制电流，则容易将其损坏。
3）由于 DIR 无 pull-up 或者 pull-down，可能造成 buffer 损坏（再做测试）。
解决方法：
1）采用带 OE 的 buffer，且默认设置为禁使能；
2）将 buffer 的 VCCA 的供电时序落后于控制器 IO 的供电时序；
3）操作上，严格要求控制器先于外部供电。
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原创文章，作者：sunev，如若转载，请注明出处：https://www.sunev.cn/hardware/1379.html
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